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소켓용 공냉식 수냉식 -60℃ 온도 시험장비

소켓용 –60 ℃ ◀▶ 150 ℃ 온도 시험 테스트 장비 ( 특허 등록 )

이 제품은 반도체 생산 현장에서 D Ram이나 NAND Flash Memory 기타 반도체 메모리의 온도 시험 검사를 하는 과정중 주로 1 채널 혹은 16 채널 이하의 온도 시험 검사 장비입니다. 볼의 압력을 정확히 부여하여 메모리 테스팅을 이상적으로 구현하기 위해서는 ①. 로터리 회전 방식과 , ②. 적정 압력 자동 부하 장치를 결합한 2 가지 사양으로 공급 됩니다. 본제품은 특허등록으로 지식재산권이 보장 됩니다

다양한 소켓 테스터
Part Name. DESCRIPTION
F U –CIR-001 A
일반제원 설 치 장 소 In and out door
주 위 온 도 20 ～ 25 Celsius(℃)
주 위 습 도 40 ～ 80 % RH
전 력 제 원 AC Free Volt
조 절 범 위 -40 ℃ ~ 100 ℃ ( 단열 30mm 채택시 )
인터페이스에 의한 온도 자동 설정 PC에 의한 타겟온도, 온도설정 가능 필요시Protocol제공
기기 제원 작 동 방 법 (EASYHandling) 수동 셑팅 가능 ( Manual Botton )
자동 셑팅 가능 ( By PC Program )
냉 각 능 력 최대 100 watt/sec
가 열 능 력 최대 200 watt/sec
온도 정밀도 ± 0.1 ℃
제품의 구성 적용 열전소자 러시아산 고효율 방부식 코팅(국내특허) 사양 고효율을위한HotExtrusion사양
온도센서 고객 요구사항에 따른 선택 (PT100dOhm,K,T)
냉각블럭 칼라 아노다이징 AL 6061 블록
칠러 일체형 열전칠러
분리형 열전칠러 혹은 프레온 컴프레서 칠러
메모리 열전도 방법 고객 사양에 따라 당사 제공
PC 제어 프로그램 당사 버젼 제공
일반 사항 온도도달시간 25 ℃ ◀ ▶ -40 ℃ 가동후 10 분이내
25 ℃ ◀ ▶ 100 ℃ 가동후 5 분이내
100 ℃◀ ▶ -40 ℃ 가동후 15 분이내
안전장치 전원회로 과전압 방지 장치
휴 즈, Auto Stop Circuit제어보드
전선연결 다중연결(Multi Connector)
온도 조절 수동조작 가능
PC 제어 가능( 온도 데이터 저장,출력,리뷰)/RS232C
자동 온도그래프 작성기능 모니터 실시간 디스플레이
온도 프로그램 제어 가능,조작자없이 자동온도 수행
무인 자동 Cycling 운전 선택옵션
몸 체 색 상 Ivory, yellow
제품크기 및 중량 소 켓 40 x 40 x 40 mm / 500 gram
컨트롤러 250 x 90 x 355 mm / 4 Kg
내장형 칠러
외장형 칠러 300 x 300 x 200 mm / 20 Kg