퓨트로텍 주식회사

냉각가열용 제품소개

냉각가열용 제품소개
반도체 메모리 모듈 테스터
128 파라 메모리 온도 시험 검사장비

128 파라 메모리 온도 시험 검사장비

메모리 반도체 –60℃ ◀▶ 125 ℃ 온도 시험 검사기 ( 특허권 보유 )

본 장비는 메모리 반도체의 다수의 채널에 대한 온도 시험 검사가 가능한 장비입니다. 통상 128 파라, 256 파라로 공급 됩니다. 통상 2 년의 내구성을 보장하고 필드에서 3년간 무사고 운영 중입니다. 이 장비 가동을 위해서는 냉각수, CDA 의 유틸리티가 필요합니다.

타사 장비 대비 개선 효과

개선항목	세부내역	시중 유통	퓨트로텍(주)	비 고 사 항
테스트 시간 단축 (분)	1 Cycle Time	14.4 (분)	8.11 (분)	+25 ℃ ▶ 105 ℃ 105 ℃ ▶ 85 ℃ +85℃ ▶ -25 ℃ -25℃ ▶ -40 ℃ -40 ℃ ▶ 25 ℃
최저 온도개선	저온 최대 구현 온도	-40℃	-55℃	-15 ℃ 개선
전력소모비 개선	전력 소모량	24.2	14.75	Kwh
	1일 24시간 가동	581	354	전력비 100원/Kwh적용
	1 달 가동	17,424	10,620
	1 년 가동	209,088	127,440
	1 년 전력비	20,908,800	12,744,000	연간 전력비 816만원절감.